एक्स-रे निरीक्षण प्रणाली उच्च परिशुद्धता एक्स-रे निरीक्षण मशीन
मुख्य विवरण:
इस श्रृंखला के उपकरणों की प्रणाली में मुख्य रूप से सात मुख्य भाग शामिल हैंः माइक्रो-फोकस एक्स-रे स्रोत, छवि इमेजिंग इकाई, कंप्यूटर छवि प्रसंस्करण प्रणाली, यांत्रिक प्रणाली,विद्युत नियंत्रण प्रणालीयह आधुनिक गैर-विनाशकारी परीक्षण, कंप्यूटर सॉफ्टवेयर प्रौद्योगिकी, छवि अधिग्रहण और प्रसंस्करण प्रौद्योगिकी को एकीकृत करता है।यांत्रिक ट्रांसमिशन तकनीक, और एआई एल्गोरिदम, चार प्रमुख तकनीकी क्षेत्रों को कवर करते हैंः ऑप्टिकल, मैकेनिकल, इलेक्ट्रिकल और एल्गोरिथम।विभिन्न सामग्रियों या मोटाई के कारण एक्स-रे अवशोषण में अंतर का उपयोग करके, यह वस्तुओं की आंतरिक संरचना की छवियां बनाता है और फिर आंतरिक दोष का पता लगाता है। यह उत्पादों की उच्च परिभाषा निरीक्षण छवियों का वास्तविक समय अवलोकन प्रदान कर सकता है,उपस्थिति का निर्धारण करना, प्रकार, और आंतरिक दोषों का स्तर। साथ ही, अनुकूलित उपयोगकर्ता आवश्यकताओं के आधार पर, एआई एल्गोरिथ्म स्वचालित दोष निर्धारण करने में सक्षम है,मूल्यांकन में सटीकता और निष्पक्षता सुनिश्चित करना.
उपकरण पैरामीटर
| वर्गीकरण | पद | प्रकार | मापदंड और कार्य |
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हार्डवेयर विन्यास |
एक्स-रे स्रोत |
ब्रांड प्रकार |
हमामात्सु, हमामात्सु, जापान, बंद माइक्रोफोकस एक्स-रे स्रोत |
| वोल्टेज करंट | 90kv,10-200uA | ||
| फोकस आकार | 5μm | ||
| मैक्सी पावर | 8W | ||
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इमेजिंग इकाई |
ब्रांड प्रकार |
iRAY,अमोर्फस सिलिकॉन फ्लैट पैनल डिटेक्टर |
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| इमेजिंग क्षेत्र | 130 मिमी × 130 मिमी | ||
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प्रकाश संवेदनशील इकाई आकार |
85 μm | ||
| पिक्सेल मैट्रिक्स | 1536×1536 | ||
| संकल्प | 5.8Lp/mm | ||
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झुकाव कोण |
0-90° देखने का कोण (45° बाएं और दाएं) | ||
| छवि फ्रेम दर | 20fps | ||
| आवर्धन अनुपात |
ज्यामितीय वृद्धि 150 समय |
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कम्प्यूटर |
होस्ट ब्रांड | एडवांटेक औद्योगिक कंप्यूटर | |
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औद्योगिक कंप्यूटर विन्यास |
सीपीयूः I5 6500 रैम:8G, HDD:1TB | ||
| मॉनिटर | 24" एफएचडी एलसीडी डिस्प्ले | ||
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लोडिंग प्लेटफार्म |
लोडिंग क्षेत्र | 520mm × 520mm | |
| मैक्सी निरीक्षण क्षेत्र | 520mm × 520mm | ||
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गति यात्रा (Z-अक्ष) |
डिटेक्शन पैनल Z1=300mm,एक्स-रे स्रोत Z2=300mm | ||
| गति यात्रा (एक्स-अक्ष) | एक्स अक्ष = 510 मिमी, वाई अक्ष = 405 मिमी | ||
| अधिकतम नमूना वजन | 10 किलो | ||
| गति नियंत्रण विधि | जॉयस्टिक, माउस और कीबोर्ड त्रि-संयोजन | ||
| नेविगेशन प्रणाली | विन्यास |
हाइ डेफिनिशन कैमरा |
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सॉफ्टवेयर प्रणाली |
सॉफ्टवेयर का परिचय |
बौद्धिक संपदा |
स्वामित्व वाली सॉफ्टवेयर बौद्धिक संपदा के साथ स्वतंत्र रूप से विकसित। |
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सॉफ्टवेयर कार्य |
स्वचालित छवि सेटिंग |
विशेषता बिंदुओं की स्थिति निर्देशांक और पैरामीटर जानकारी रिकॉर्ड करना |
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| स्वचालित नेविगेशन कार्यक्षमता | निरीक्षण बिंदुओं पर त्वरित आवागमन की सुविधा | |||
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गणना सुविधा |
इलेक्ट्रॉनिक/अर्धचालक उत्पादों में बुलबुले मापने में सक्षम | |||
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एल्गोरिथ्म मॉडल |
अनुकूलन योग्य पता लगाने आवश्यकताओं पर आधारित एल्गोरिदम मॉडल |
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| स्थान संपादन कार्यक्षमता | आसानी से बहु-बिंदु स्थिति का पता लगाने प्राप्त | |||
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मशीन पैरामीटर |
वजन | लगभग 1250 किलोग्राम | ||
| विद्युत आपूर्ति | 220V/50Hz | |||
| मैक्सी पावर | 2.0KW | |||
| उपकरण के आयाम |
1300mm(L) * 1320mm(W) * 1800 मिमी ((H) |
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| विकिरण रिसाव खुराक | <1μSv/h | |||
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एक्स-रे सुरक्षा |
1विकिरण रिसाव खुराकः< 1μSv/h. |
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2आवरण की सुरक्षात्मक सामग्री स्टील-लीड-स्टील संरचना से बनी है और सामने के दरवाजे की खिड़की का उपयोग किया जाता है। विकिरण सुरक्षा के लिए लीड ग्लास। |
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3.सुरक्षा इंटरलॉक सुविधाः सीमा स्विच सभी दरवाजे के पदों पर स्थापित कर रहे हैं। जब दरवाजा खोला जाता है, एक्स-रे स्रोत स्वचालित रूप से काट देता है शक्ति। |
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4एक्स-रे की परिचालन स्थिति को इंगित करने के लिए स्थिति संकेतक रोशनी का उपयोग करें स्रोत। |
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5उपकरण ने रेडियोआइसोटोप और विकिरण के लिए छूट दाखिल की है। उपकरण" |
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विन्यास सूची
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नहीं . |
नाम | मात्रा | इकाई | विन्यास विनिर्देश |
| 1 | एक्स-रे स्रोत | 1 | एसईटी |
HAMAMATSU,Hamamatsu,जापान,बंद माइक्रोफोकस एक्स- किरण स्रोत 90 केवी |
| 2 |
इमेजिंग इकाई |
1 |
पीसीएस |
iRAY,अमोर्फस सिलिकॉन फ्लैट पैनल डिटेक्टर 130 मिमी ×130 मिमी |
| 3 | होस्ट कंप्यूटर | 1 | पीसीएस | एडवांटेक औद्योगिक कंप्यूटर |
| 4 | मॉनिटर | 1 | पीसीएस | 24 इंच का एचडी मॉनिटर |
| 5 | परिशुद्धता नियंत्रण घटक | 1 | एसईटी | गोगोल मोशन कंट्रोल कार्ड, मोटर आदि |
| 6 | सीसा कक्ष और गति भाग | 1 | एसईटी | स्वतंत्र रूप से WISDOMSHOW द्वारा विकसित |
| 7 | सॉफ्टवेयर | 1 | एसईटी | स्वतंत्र रूप से WISDOMSHOW द्वारा विकसित |
